Pollak, F. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Pollak, Fred. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Pollak, Fred. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.