Pollak, F. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
Citace podle Chicago (17th ed.)Pollak, Fred. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
Citace podle MLA (9th ed.)Pollak, Fred. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..