Pollak, F. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)Pollak, Fred. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)Pollak, Fred. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.