Pollak, F. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Pollak, Fred. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
Citação MLA (9ª ed.)Pollak, Fred. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.