Pollak, F. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Pollak, Fred. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
Цитирование MLA (9-е изд.)Pollak, Fred. Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology II. SPIE Digital Library.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.