Electron-Beam, X-Ray, and Ion-Beam Techniques for Submicrometer Lithographies IV

Podrobná bibliografie
Další autoři: Blais, Phillip
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: SPIE Digital Library, 6/20/85
Témata:
On-line přístup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Popis
Popis jednotky:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Fyzický popis:1 online resource
Médium:Mode of access: Internet
ISBN:9780892525720
Přístup:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students