Electron-Beam, X-Ray, and Ion-Beam Techniques for Submicrometer Lithographies IV

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Blais, Phillip
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: SPIE Digital Library, 6/20/85
Schlagworte:
Online-Zugang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Beschreibung
Beschreibung:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Beschreibung:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9780892525720
Zugangseinschränkungen:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students