Electron-Beam, X-Ray, and Ion-Beam Techniques for Submicrometer Lithographies IV

書誌詳細
その他の著者: Blais, Phillip
フォーマット: 電子媒体 eBook
言語:英語
出版事項: SPIE Digital Library, 6/20/85
主題:
オンライン・アクセス:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
その他の書誌記述
記述事項:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
物理的記述:1 online resource
フォーマット:Mode of access: Internet
ISBN:9780892525720
アクセス:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students