Electron-Beam, X-Ray, and Ion-Beam Technology for Submicrometer Lithographies V

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Blais, Phillip
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: SPIE Digital Library, 6/30/86
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Descripció
Descripció de l’ítem:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Descripció física:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9780892526673
Accés:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students