X-Rays in Materials Analysis: Novel Applications and Recent Developments

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Rusch, Thomas
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 8/12/86
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak