X-Rays in Materials Analysis: Novel Applications and Recent Developments

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Rusch, Thomas
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: SPIE Digital Library, 8/12/86
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ítems similars