X-Rays in Materials Analysis: Novel Applications and Recent Developments

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Rusch, Thomas
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: SPIE Digital Library, 8/12/86
Aiheet:
Linkit:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Samankaltaisia teoksia