X-Rays in Materials Analysis: Novel Applications and Recent Developments

Библиографические подробности
Другие авторы: Rusch, Thomas
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: SPIE Digital Library, 8/12/86
Предметы:
Online-ссылка:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Схожие документы