Monahan, K. Integrated Circuit Metrology, Inspection, & Process Control. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Monahan, Kevin. Integrated Circuit Metrology, Inspection, & Process Control. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Monahan, Kevin. Integrated Circuit Metrology, Inspection, & Process Control. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..