Glembocki, O. Modern Optical Characterization Techniques for Semiconductors and Semiconductor Devices. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Glembocki, Orest. Modern Optical Characterization Techniques for Semiconductors and Semiconductor Devices. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Glembocki, Orest. Modern Optical Characterization Techniques for Semiconductors and Semiconductor Devices. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.