Glembocki, O. Modern Optical Characterization Techniques for Semiconductors and Semiconductor Devices. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Glembocki, Orest. Modern Optical Characterization Techniques for Semiconductors and Semiconductor Devices. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Glembocki, Orest. Modern Optical Characterization Techniques for Semiconductors and Semiconductor Devices. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..