Glembocki, O. Modern Optical Characterization Techniques for Semiconductors and Semiconductor Devices. SPIE Digital Library.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Glembocki, Orest. Modern Optical Characterization Techniques for Semiconductors and Semiconductor Devices. SPIE Digital Library.
Цитирование MLA (9-е изд.)Glembocki, Orest. Modern Optical Characterization Techniques for Semiconductors and Semiconductor Devices. SPIE Digital Library.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.