Modern Optical Characterization Techniques for Semiconductors and Semiconductor Devices

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Glembocki, Orest
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 4/22/87
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Παρόμοια τεκμήρια