Electron-Beam, X-Ray, and Ion Beam Technology: Submicrometer Lithographies VII

Бібліографічні деталі
Інші автори: Yanof, Arnold
Формат: Електронний ресурс eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: SPIE Digital Library, 6/14/88
Предмети:
Онлайн доступ:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Опис
Опис примірника:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Фізичний опис:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9780892529582
Доступ:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students