Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VI

Podrobná bibliografie
Další autoři: Assoufid, Lahsen
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: SPIE Digital Library, 1/1/16
Témata:
On-line přístup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Popis
Popis jednotky:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Fyzický popis:1 online resource
Médium:Mode of access: Internet
ISBN:9781510603158
9781510603165
Přístup:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students