Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VI

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Assoufid, Lahsen
التنسيق: الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: SPIE Digital Library, 1/1/16
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
الوصف
وصف المادة:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
وصف مادي:1 online resource
التنسيق:Mode of access: Internet
ردمك:9781510603158
9781510603165
وصول:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students