Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VI

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Assoufid, Lahsen
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 1/1/16
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Περιγραφή
Περιγραφή τεκμηρίου:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Φυσική περιγραφή:1 online resource
Μορφή:Mode of access: Internet
ISBN:9781510603158
9781510603165
Πρόσβαση:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students