Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IV

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Han, Sen
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 11/24/16
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Նկարագրություն
Նյութի նկարագրություն:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Ֆիզիկական նկարագրություն:1 online resource
Ձևաչափ:Mode of access: Internet
ISBN:9781510604650
9781510604667
Հասանելի:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students