Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IV

Библиографические подробности
Другие авторы: Han, Sen
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: SPIE Digital Library, 11/24/16
Предметы:
Online-ссылка:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Описание
Примечание:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Объем:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9781510604650
9781510604667
Доступ:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students