Han, S. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications V. SPIE Digital Library.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications V. SPIE Digital Library.
Citação MLA (9ª ed.)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications V. SPIE Digital Library.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.