Postek, M. Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors VII. SPIE Digital Library.
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতিPostek, Michael. Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors VII. SPIE Digital Library.
M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতিPostek, Michael. Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors VII. SPIE Digital Library.
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.