Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS, Nanodevices, and Nanomaterials XIII

Библиографические подробности
Другие авторы: Shea, Herbert
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: SPIE Digital Library, 3/19/14
Предметы:
Online-ссылка:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Описание
Примечание:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Объем:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9780819498885
Доступ:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students