Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS, Nanodevices, and Nanomaterials XIII
| Muut tekijät: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Elektroninen E-kirja |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
SPIE Digital Library,
3/19/14
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |