Postek, M. Scanning Microscopies 2012: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Postek, Michael. Scanning Microscopies 2012: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Postek, Michael. Scanning Microscopies 2012: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.