Postek, M. Scanning Microscopies 2012: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences. SPIE Digital Library.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Postek, Michael. Scanning Microscopies 2012: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences. SPIE Digital Library.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Postek, Michael. Scanning Microscopies 2012: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences. SPIE Digital Library.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.