Scanning Microscopies 2012: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Postek, Michael
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 6/5/12
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
תיאור
תאור פריט:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
תיאור פיזי:1 online resource
פורמט:Mode of access: Internet
ISBN:9780819490568
גישה:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students