Scanning Microscopies 2012: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

Podrobná bibliografie
Další autoři: Postek, Michael
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: SPIE Digital Library, 6/5/12
Témata:
On-line přístup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobné jednotky