Siirry sisältöön
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Tarkennettu
  • Interferometry for Precision M...
  • Sitaatti
  • Tulosta
  • Vie tietue
    • Vienti: RefWorks
    • Vienti: EndNoteWeb
    • Vienti: EndNote
  • Pysyvä linkki
Kansikuva

Interferometry for Precision Measurement

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Langenbeck, Peter
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: SPIE Digital Library, 1/1/14
Aiheet:
Conference papers and proceedings.
Linkit:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
  • Saatavuustiedot
  • Kuvaus
  • Samankaltaisia teoksia
  • Henkilökuntanäyttö

Internet

Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Samankaltaisia teoksia

  • Field Guide to Displacement Measuring Interferometry
    Tekijä: Ellis, Jonathan D.
  • Interferometry
  • Atomic and Quantum Optics: High-Precision Measurements
  • Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry
  • Third International Symposium on Precision Mechanical Measurements

Haun vaihtoehdot

  • Hakuhistoria
  • Tarkennettu haku

Hae lisää

  • Selaa luetteloa
  • Selaa aakkosittain
  • Tutki kanavia
  • Kurssikirjat
  • Uutuusluettelo

Tarvitsetko apua?

  • Hakuohje
  • Kysy kirjastosta
  • UKK:t