Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS and Nanodevices XII

Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Ramesham, Rajeshuni
Materyal Türü: Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: SPIE Digital Library, 3/26/13
Konular:
Online Erişim:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Diğer Bilgiler
Diğer Bilgileri:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Fiziksel Özellikler:1 online resource
Materyal Türü:Mode of access: Internet
ISBN:9780819493835
Erişim:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students