Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS and Nanodevices XII

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Ramesham, Rajeshuni
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 3/26/13
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Παρόμοια τεκμήρια