Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS and Nanodevices XII

Dettagli Bibliografici
Altri autori: Ramesham, Rajeshuni
Natura: Elettronico eBook
Lingua:inglese
Pubblicazione: SPIE Digital Library, 3/26/13
Soggetti:
Accesso online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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