Scanning Microscopies 2013: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

Бібліографічні деталі
Інші автори: Postek, Michael
Формат: Електронний ресурс eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: SPIE Digital Library, 6/6/13
Предмети:
Онлайн доступ:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Схожі ресурси