Scanning Microscopies 2013: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Postek, Michael
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: SPIE Digital Library, 6/6/13
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ítems similars