Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing IV

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Postek, Michael
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 8/26/10
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak