Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing IV

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Postek, Michael
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 8/26/10
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy