Scanning Microscopies 2011: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
অন্যান্য লেখক: Postek, Michael
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: SPIE Digital Library, 6/9/11
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
বিবরন
উপাদানের বিবরণ:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
দৈহিক বর্ননা:1 online resource
বিন্যাস:Mode of access: Internet
আইসবিএন:9780819486103
প্রবেশাধিকার:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students