Scanning Microscopies 2011: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Postek, Michael
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: SPIE Digital Library, 6/9/11
Onderwerpen:
Online toegang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Gelijkaardige items