Scanning Microscopies 2011: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Postek, Michael
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: SPIE Digital Library, 6/9/11
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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