Scanning Microscopies 2011: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Postek, Michael
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 6/9/11
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)