Scanning Microscopies 2011: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Postek, Michael
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 6/9/11
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)