Scanning Microscopies 2011: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

Библиографические подробности
Другие авторы: Postek, Michael
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: SPIE Digital Library, 6/9/11
Предметы:
Online-ссылка:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)