Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors V

Chi tiết về thư mục
Tác giả khác: Postek, Michael
Định dạng: Điện tử eBook
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: SPIE Digital Library, 9/19/11
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Miêu tả
Mô tả sách:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Mô tả vật lý:1 online resource
Định dạng:Mode of access: Internet
số ISBN:9780819487155
Truy cập:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students