GarcÃa-Blanco, S. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices XI. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)GarcÃa-Blanco, Sonia. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices XI. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)GarcÃa-Blanco, Sonia. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices XI. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.