GarcÃa-Blanco, S. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices XI. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)GarcÃa-Blanco, Sonia. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices XI. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)GarcÃa-Blanco, Sonia. Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices XI. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.