Starikov, A. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXVI. SPIE Digital Library.
Citação norma ChicagoStarikov, Alexander. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXVI. SPIE Digital Library.
Citação norma MLAStarikov, Alexander. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXVI. SPIE Digital Library.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.